Odporność na skrajne temperatury
Karta została zaprojektowana i przetestowana pod kątem użytkowania w trudnych warunkach i temperaturach w zakresie od -40 do 85°C
Karta została zaprojektowana i przetestowana pod kątem użytkowania w trudnych warunkach i temperaturach w zakresie od -40 do 85°C
Do 1920 TBW{{Footnote.N63951}} i 30 tys. cykli P/E, aby spełnić wymagania szerokiej gamy zastosowań przemysłowych
Szybkość odczytu/zapisu do 100/80MB/s{{Footnote.N37154}} z obsługą standardów U3, V30 i A1 na potrzeby zastosowań opartych na systemie Android
Wydajny mechanizm ECC, równoważenie zużycia, zarządzanie uszkodzonymi blokami i opcjonalne narzędzie do monitorowania kondycji, umożliwiające zarządzanie żywotnością karty{{Footnote.N37160}}
Pojemności{{Footnote.N47164}} | 8GB, 16GB, 32GB, 64GB |
Szybkość{{Footnote.N37154}} | Odczyt do 100MB/s, zapis do 80MB/s |
Wydajność{{Footnote.N37154}} | Klasa szybkości 10, UHS-I, U3, V30, A1 |
Wytrzymałość{{Footnote.N63951}} | Do 1920 TBW 30 tys. cykli P/E |
Pamięć NAND | TLC w trybie pSLC |
Wymiary karty microSDHC | 11mm x 15mm x 1mm |
Wymiary adaptera SD | 24mm x 32mm x 2,1mm |
Format | FAT32 dla SDHC oraz ExFAT dla SDXC |
Temperatura pracy i przechowywania | Od -40°C do 85°C |
Napięcie | 3,3V |
Funkcje klasy przemysłowej | • Zarządzanie uszkodzonymi blokami • Wydajny mechanizm ECC • Zabezpieczenie przed awarią zasilania • Równoważenie zużycia • Ochrona dystrybucji odczytu z automatycznym odświeżaniem • Dynamiczne odświeżanie danych • System SiP (System in Package) • Funkcja usuwania pozostałości danych • Monitorowanie kondycji |
Czas życia | Wodoodporność{{Footnote.N37161}} Odporność na skrajne temperatury{{Footnote.N57045}} Zabezpieczenie przed promieniowaniem rentgenowskim stosowanym na lotniskach{{Footnote.N57046}} |
Badanie odporności na cykliczne zmiany temperatury | Okresowe badanie w różnych skrajnych temperaturach |
Badanie trwałości w warunkach podwyższonej temperatury i wilgotności | Kilkaset godzin badań gwarantujących trwałość przy zmieniającym się poziomie wilgotności |
Testy w komorze temperaturowej | Stosowane w odniesieniu do wszystkich kart SDCIT w fazie przedprodukcyjnej |
Gwarancja{{Footnote.N37160}} | 3 lata |